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场发射扫描电子显微镜（SEM）
仪器型号：
FEI Scios 2 HiVac
SU8100
预约次数：
484次
测试周期：
4-5个工作日
技术顾问
一对一解答，测试快人一步
项目简介
扫描电子显微镜（SEM）是利用二次电子和背散射电子信号，通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器，随着科学技术水平的提高，其放大倍数可达几十万倍，分辨率可达纳米级别，是形貌和成分分析领域极其重要的一种工具。
结果展示
SEM形貌
EDS-点扫
EDS-线扫
EDS-Mapping
样品要求
1、粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试请提前说明；
2、液体样品，测试老师根据样品要求及实验室条件，随机选择滴到硅片或铝箔上，如有指定要求请提前说明；
3、薄膜或块体，请标明测试面，如需测试截面，请自行自备截面或提前说明截面制备方式。
2、液体样品，测试老师根据样品要求及实验室条件，随机选择滴到硅片或铝箔上，如有指定要求请提前说明；
3、薄膜或块体，请标明测试面，如需测试截面，请自行自备截面或提前说明截面制备方式。
常见问题
SEM拍摄是通过探测器捕获二次电子和背散射电子信号来成像的，如果样品表面导电性差，电子束照射到样品表面时会造成很多电子或游离粒子不能及时导走，出现“荷电现象”，造成样品拍摄出的图像扭曲、变形、晃动等情况出现。而喷金后样品表面导电性增强，极大地减少或者避免了“荷电现象”的产生，进而拍摄出比较清晰的SEM像出来。