

Zeiss Sigma500
SU8010
Helios 5CX




一对一解答,测试快人一步

扫描电子显微镜(SEM)是利用二次电子和背散射电子信号,通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器,随着科学技术水平的提高,其放大倍数可达几十万倍,分辨率可达纳米级别,是形貌和成分分析领域极其重要的一种工具。

SEM形貌
EDS-点扫
EDS-线扫
EDS-Mapping

1、粉体样品,常规粉末直接粘到导电胶上测试,如需分散后测试请提前说明;
2、液体样品,测试老师根据样品要求及实验室条件,随机选择滴到硅片或铝箔上,如有指定要求请提前说明;
3、薄膜或块体,请标明测试面,如需测试截面,请自行自备截面或提前说明截面制备方式。
