100%
仪器型号：
预约次数：
测试周期：
项目简介
同步辐射X射线吸收谱数据分析，主要是对已经测试完成的数据谱图进行处理，得到目标参数和图谱数据。XAFS谱图通常分为三个部分：Pre-edge（边前）、XANES（近边结构）、EXAFS（扩展边），XAFS数据分析主要是针对XANES近边结构和EXAFS扩展边结构进行拟合处理，从而得到关于吸收元素的价态、配位元素、配位数、原子间距离和无序度等结构信息。
结果展示
EKR空间图
XANES近边结构模拟
K&R-Fitting图
小波变换图（Wavelet）
样品要求
1、需要提供良好的测试完成的XAS数据，格式不限；
2、需要填写好需求单，明确自己的样品信息以及相应的参考数据和图例；
3、小波变换有origin版本和直接出图版本，需要哪种自行备注好；
4、近边结构模拟需要提供对应的CIF文件哦。
常见问题
通常建议选择全套分析，包括EKR空间图、拟合K&R-fitting图、小波变换图；这样可以在文章中主要使用E空间图来说明样品的体相价态；使用R-fitting图以及拟合参数可以表明样品的配位元素以及结构情况；小波变换图可以更好的给文章增彩。其余的图可以放在支撑数据中哦。
R-space中的键长并非真实键长，真实键长需要进行拟合数据后得到，一般R-space中的键长与真实键长相差0.5埃左右。